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影响涂层测厚仪测量值精度的因素

影响涂层测厚仪测量值精度的因素

1.影响测量精度因素如下:

a 基体金属磁性质
磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中,低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的),为了避免热处理和冷加工因素的影响,应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。

b 基体金属电性质
基体金属的电导率对测量有影响,而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

c 基体金属厚度
每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度,测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。
d 边缘效应
本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

e 曲率
试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此,在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

f 试件的变形
测头会使软覆盖层试件变形,因此在这些试件上测出可靠的数据。

g 表面粗糙度
基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大,影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差,每次测量时,在不同位置上应增加测量的次数,以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙,还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后,再校对仪器的零点。

g 磁场
周围各种电气设备所产生的强磁场,会严重地干扰磁性法测厚工作。

h 附着物质
本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感,因此,必须**附着物质,以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。

i 测头压力
测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数,因此,要保持压力恒定。

j 测头的取向
测头的放置方式对测量有影响。在测量中,应当使测头与试样表面保持垂直。

2.使用仪器时应当遵守的规定

a 基体金属特性
对于磁性方法,标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
对于涡流方法,标准片基体金属的电性质,应当与试件基体金属的电性质相似。

b 基体金属厚度
检查基体金属厚度是否超过临界厚度,如果没有,可采用3.3中的某种方法进行校准。

c 边缘效应
不应在紧靠试件的突变处,如边缘、洞和内转角等处进行测量。

d 曲率
不应在试件的弯曲表面上测量。

e 读数次数
通常由于仪器的每次读数并不完全相同,因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异,也要求在任一给定的面积内进行多次测量,表面粗造时更应如此。

f 表面清洁度
测量前,应**表面上的任何附着物质,如尘土、油脂及腐蚀产物等,但不要除去任何覆盖层物质

上海树信仪器代理德国EPK公司的涂层测厚仪,详细资料如下:

 

 麦考特 MikroTest 自动型涂镀层测厚仪
1MikroTest G 6,F 6(铁基体涂镀层  0-100, 0-1000um,精度:5%读值)
2MikroTest S3,S5,S10(铁基体涂镀层 0.2-3,0.5-5,2.5-10mm精度:5%读值)
3MikroTest S20(铁基体涂镀层 7.5-20mm,精度:5%读值)
4MikroTest NiFe50(铁基体上电镀镍     0-50um,精度:2um+8%读值)
5MikroTest Ni50(非铁基体上电镀镍     0-50um,精度:1um+5%读值)
6MikroTest Ni100(非铁基体上电镀镍    0-100um,精度:1um+5%读值)
7MiniPen笔式测厚仪     (铁基体涂镀层50-500um)
8PenTest笔式测厚仪     (铁基体涂镀层25-700um)
9WetTest湿膜测厚仪     (25-800um)
   
   
 新型MINITEST微电脑精密涂镀层测厚仪
10MiniTest 1100    主机(不含统计功能,含RS-232口,塑料箱)       
11MiniTest 2100    主机(二次统计型,含RS-232口,塑料箱)       
12Minitest 3100     主机(二次统计型,含RS-232口,塑料箱)       
13MiniTest 4100    主机(二次统计型,含RS-232口,塑料箱)
14MiniPrint4100专用打印机适合EPK除700系列所有产品
   
   
 供MiniTest 1100/2100/3100/4100 选配测头
15测头 F05(铁基体涂镀层 *小测量面积直经3mm 0-500um,低端分辨率0.1um)
16测头 F3(铁基体涂镀层          0-3000um,低端分辨率0.2um)
17测头 F1.6(铁基体涂镀层          0-1600um,低端分辨率0.1um)
18测头 F1.6P(铁基体上未固化粉末涂层 0-1600um,低端分辨率0.1um)
19测头 F1.6/90(铁基体涂镀层 测管内壁   0-1600um,低端分辨率0.1um)
20测头 F10/2,F20(铁基体涂镀层            0-10mm,分辨率5um,0-20mm,分辨率10um)
21测头 F50(铁基体涂镀层             0-50mm,分辨率,10um)
22测头 FN1.6(铁及铜铝基体涂镀层       0-1600um,分辨率0.1um)
23测头 FN1.6P(铁及铜铝基体上未固化粉末涂层  0-1600um,分辨率0.1um)
24测头 N02(铜铝基体涂层            0-200um,分辨率,0.1um)
25测头 N08 Cr(铜基体上镀铬层          0-800um,分辨率0.1um)
26测头 N02 Tu(铝箔或铝薄壁管上薄涂层    0-200um,分辨率0.1um)
27用于测头N02 Tu的专用支架 
28测头 N1.6(铜铝基体涂层              0-1600um,分辨率0.1um)
29测头 N1.6/90(铜铝基体涂层测管内壁     0-1600um,分辨率0.1um)
30测头 N10/2,N20(铜铝基体涂镀层        0-10mm,分辨率10um,0-20mm,分辨率10um)
31测头 N100(铁及铜铝基体涂镀层       0-100mm,分辨率100um)
32测头 CN  02(敷铜板等                10-200um,分辨率0.2um)
33RS232 接口电缆 for 2100/4100配MiniTest 1100/2100/3100/4100 (用于连接个人电脑)
34MSOFT41 数据分析软件 for 4100配MiniTest 1100/2100/3100/4100 (用于连接个人电脑)
   
   
   
  MINITEST袖珍新型微电脑涂镀层测厚仪
 MINITEST720系列:统计型,内置一体式探头
35MiniTest 720 F 1.5铁基涂层,0...1500 µm
36MiniTest 720 N 07非铁基涂层,0...700 µm
37MiniTest 720 FN 1.5两用型,0...1500 µm (F),0...700 µm (N)
38MiniTest 720 F2铁基涂层,0...2000 µm
39MiniTest 720 F5铁基涂层,0...5000 µm
40MiniTest 720 N 2.5非铁基涂层,0...2500 µm
41MiniTest 720 FN5两用型,0...5000 µm (F),0...2500 µm (N)
42MiniTest 720 F15铁基涂层,0...15 mm
   
 MINITEST730系列:统计型,外置一体式探头
43MiniTest 730 F 1.5铁基涂层,0...1500 µm
44MiniTest 730 N 07非铁基涂层,0...700 µm
45MiniTest 730 FN 1.5两用型,0...1500 µm (F),0...700 µm (N)
46MiniTest 730 F2铁基涂层,0...2000 µm
47MiniTest 730 F5铁基涂层,0...5000 µm
48MiniTest 730 N 2.5非铁基涂层,0...2500 µm
49MiniTest 730 FN 5两用型,0...5000 µm (F),0...2500 µm (N)
50MiniTest 730 F15铁基涂层,0...15 mm
   
 MINITEST740:统计型;需要选配探头,内置探头可转换为外置探头 
51MiniTest 740 主机(无探头) 
 MINITEST740可选探头 
52F 1.5铁基涂层,0...1500 µm
53N 07非铁基涂层,0...700 µm
54FN 1.5两用型,0...1500 µm (F),0...700 µm (N)
55F 2铁基涂层,0...2000 µm
56F 5铁基涂层,0...5000 µm
57N 2.5非铁基涂层,0...2500 µm
58FN 5两用型,0...5000 µm (F),0...2500 µm (N)
59F 15铁基涂层,0...15 mm
60Printer MiniPrint 7000适用于700系列任一型号
   
 MINITEST600系列 
61MiniTest 600 B-F(铁基涂层,0-3000um,含校准箔,防尘套,分辨率1um)
61MiniTest 600 B-N(非铁基涂层,0-2000um,含校准箔,防尘套,分辨率1um)
63MiniTest 600 B-FN(两用型,0-2000um,含校准箔,防尘套,分辨率1um)
64MiniTest 600 F(统计型,铁基涂层,0-3000um,含校准箔,防尘套,分辨率1um)
65MiniTest 600 N(统计型,非铁基涂层,0-2000um,含校准箔,防尘套,分辨率1um)
66MiniTest 600 FN(统计,两用型,0-2000um,含校准箔,防尘套,
分辨率1um)
67RS232 接口电缆 for 600  eXacto配MiniTest 600 及EXACTO ,用于个人电脑
68接口电缆 for 600  eXacto配MiniTest 600 及EXACTO ,用于打印机
69MSOFT7000配MiniTest 600 及EXACTO用,可免费下载
   
   
 MINITEST FH 壁厚测厚仪
76MiniTest FH 7200 主机(统计型,可存储10000个读数,可联接FH4,FH10两种测头),
77MiniTest FH 7400 主机(统计型,存储24000个读数,显示统计图表,可联接FH4/FH10两种测头),
78测头 FH 4(量程0-4mm,低端精度±(3um+1%读值))
79测头 FH 10(量程1-10mm,低端精度±(5um+1%读值))

 

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